X射線衍射儀冷熱臺XRD-190°～400°
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產品詳情
產品簡介：
DY-1940XRD真空冷熱臺是一款專為X射線衍射儀設計的變溫附件，通過液氮制冷與電阻加熱技術精準實現-190°C至400°C的寬溫度范圍控制，支持粉末、片狀樣品在空氣、真空或惰性氣體環境下的原位結構分析。其核心價值在于實時監測材料相變、晶格參數演變等熱力學行為，為材料科學和能源電池等領域提供動態研究手段；作為X射線衍射分析儀的原位裝置，它能有效控制材料在溫度變化條件下的即時反應，并適配布魯克、賽默飛、理學、島津等主流XRD設備。
點應光學真空冷熱臺采用先進的PID算法與銀質傳導設計，支持反射/透射雙模式自由切換；Kapton膜視窗確保高X射線穿透率；通過耦合電化學測試與XRD數據，實現材料“結構-性能”關系的多維解析，助力新型功能材料的開發與優化。跨學科應用包括：能源材料領域，分析鋰/鈉電池電極材料在充放電循環中的晶體結構變化；高溫陶瓷領域，探究相變溫度點及其熱膨脹系數。
XRD冷熱臺溫控參數：
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型號 |
DYLE-1940XRD |
DYE1200XRD |
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溫控模塊 |
冷熱方式 |
液氮致冷，電阻加熱 |
電阻加熱 |
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溫控范圍 |
-190℃～400℃ * |
RT～1200℃ * |
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溫度穩定性 |
±0.1℃（<400℃），±1℃（>400℃）* |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
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升降溫速率 |
0~50℃/min（可定點 / 程序段控溫） |
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溫控方式 |
PID |
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溫度傳感器 |
PT100 |
熱電偶 |
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光學特性 |
光路 |
反射 * |
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X射線透射膜 |
Kapton膜 |
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結構特性 |
樣品臺尺寸 |
23×23mm * |
12x12mm * |
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樣品臺材質 |
銀質 * |
陶瓷 * |
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外形尺寸 |
100×100×73mm * |
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腔室 |
真空* |
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外殼冷卻 |
循環水 |
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基本配置 |
XRD原位冷熱臺x1、溫度控制器x1、制冷控制器x1（低溫配置）、液氮罐x1（低溫配置）、定制支架x1、溫控軟件x1、循環水系統x1、連接管路若干 |
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選配 |
電腦主機/定制溫控軟件/定制光學蓋板 |
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備注 |
以上均為默認參數 * 為可定制項 |
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其他可選型號 |
DY-1060XRD（-100~600℃）/ DY-1040XRD（-100~400℃） |
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